***温度检测模块和第二检测模块均采用型号为pt1000的铂热电阻;***加热模块包括***功率继电器和***加热丝;第二加热模块包括第二功率继电器和第二加热丝;在本实施中,晶圆加热处于温度稳定阶段,并且将控制模块的温度稳定阶段的精度值设置为℃,本领域普通技术人员可根据实际需求设置该阶段的精度值。为了更好地解释本发明,假设***温度检测模块检测到的温度值为℃,第二温度检测模块检测到的温度值为℃,控制模块接收到上述两个温度值后,通过下述公式得到差值:差值=|℃℃|=℃控制模块将上述计算得到的差值与精度值进行比较,在本实施中,差值为℃,大于精度值℃;控制模块通过增大第二功率继电器的输出功率,提高第二加热丝的工作功率,直到***温度检测模块检测到的温度值和第二温度检测模块检测到的温度值之间的差值小于℃;当然本领域普通技术人员也可以通过减小***加热丝的工作功率,使得***温度检测模块检测到的温度值和第二温度检测模块检测到的温度值之间的差值小于℃。通过对热盘进行分区化的温度管理,使得热盘温度均匀,满足了高精度晶圆的加工需求。实施例2:本实施与实施例1的不同点是晶圆加热处于加热升温阶段,在该阶段控制模块的精度值设置为℃。晶圆放置在垫柱3上,使晶圆与加热盘1之间形成间隙。MSA FACTORYPA3003-PCC10A加热板经销

晶圆加热装置的制作方法文档序号:30596935发布日期:2022-07-0120:52阅读:35来源:国知局导航:X技术>*****>电气元件制品的制造及其应用技术1.本技术属于晶圆加工技术领域,尤其涉及一种晶圆加热装置。背景技术:2.目前,常用的晶圆加热设备的加热丝呈螺旋状从中心向**旋转,加热丝在热盘中的分布不够均匀,无法达到均匀加热的目的,无法满足晶圆的高精度加热要求,而高精度加热对半导体工艺至关重要。3.另外,在晶圆加热前需要先行对晶圆进行定位,在先技术中通常通过真空吸盘定位,但现有的真空吸盘对晶圆的吸附力通常不够均匀,晶圆和真空吸盘间的间隙存在差异,这也会导致晶圆加热不均匀,导致无法满足晶圆加热的精度要求。技术实现要素:4.针对上述问题,本技术提供了一种晶圆加热装置,至少解决了在先技术中真空吸盘吸附力不均匀、晶圆加热不均匀的问题。5.本技术实施例提供一种晶圆加热装置,包括:6.基座;7.真空吸盘,设于所述基座上且用于吸附工件,所述真空吸盘上设有进气孔与气路,所述气路包括若干同心设置的环形气路以及沿若干沿所述真空吸盘的径向延伸的径向气路,每个所述径向气路与各所述环形气路均连通。
上海 PA8015-CC-PCC200V加热板价格多少物件温度保持在目标温度值的士5°C的范围内。

晶圆热处理在涂敷光刻胶之前,将洗净的基片表面涂上附着性增强剂或将基片放在惰性气体中进行热处理。这样处理是为了增加光刻胶与基片间的粘附能力,防止显影时光刻胶图形的脱落以及防止湿法腐蚀时产生侧面腐蚀(sideetching)。光刻胶的涂敷是用转速和旋转时间可自由设定的甩胶机来进行的。首先、用真空吸引法将基片吸在甩胶机的吸盘上,把具有一定粘度的光刻胶滴在基片的表面,然后以设定的转速和时间甩胶。由于离心力的作用,光刻胶在基片表面均匀地展开,多余的光刻胶被甩掉,获得一定厚度的光刻胶膜,光刻胶的膜厚是由光刻胶的粘度和甩胶的转速来控制。所谓光刻胶,是对光、电子束或X线等敏感,具有在显影液中溶解性的性质,同时具有耐腐蚀性的材料。一般说来,正型胶的分辨率高,而负型胶具有感光度以及和下层的粘接性能好等特点。光刻工艺精细图形(分辨率,清晰度),以及与其他层的图形有多高的位置吻合精度(套刻精度)来决定,因此有良好的光刻胶,还要有好的曝光系统。晶圆晶圆的背面研磨工艺晶圆的集成电路制造,为了降低器件热阻、提高工作散热及冷却能力、便于封装,在硅晶圆正面制作完集成电路后,需要进行背面减薄。晶圆的背面研磨工艺。
为了保证测控精度,采用红外线温度测控模块作为温度测控模块。图1是本发明实施例的结构原理示意图;图2是未采用本发明技术方案的温度与时间关系示意图;图3为采用本发明技术方案的温度与时间关系示意图。具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明技术方案进一步说明如图1、图2和图3所示,本发明提供一种精确控温的高频加热装置,包括有对物件进行升温的高频机1,监测物件温度并反馈正比电压信号的美国雷泰红外线温度测控模块2和接收电压信号并控制高频机输出功率的信号调理模块3.采用上述精确控温高频加热装置的方法,包括如下步骤第一步,开始高频加热,高频机1满负荷加热升温,美国雷泰红外线温度测控模块2监测物件温度,当物件温度距目标温度80120°C时,改为动态功率加热;第二步,美国雷泰红外线温度测控模块2根据不同温度,反馈与温度成正比的电压值,信号调理模块3根据电压值的大小反比例调节高频机1的功率输出,使其越接近目标温度,输出功率越小;第三步,信号调理模块3动态调节高频机1的功率输出,物件温度保持在目标温度值的士5°C的范围内。本申请人在未采用上述高频加热温度控制装置及方法时,连续生产过程中测试分析数据。实施方式所涉及的加热器具备发光管、发热体及反射膜。

所述的调节支撑圆柱3-4与研磨盘主体3-1之间、调节支撑圆柱3-4与圆环1-2之间均设置为螺纹连接;所述的支撑圆盘本体1-1的材质采用铝合金;所述的圆环1-2的材质采用ptfe;所述的研磨块3-5的长度与晶圆加热器5的修磨面半径相等。本实用新型的具体实施:先将晶圆加热器的没有沟槽的非工作面区域使用数控车床进行修复,再将晶圆加热器放置在加热器支撑圆盘内,并用螺丝将圆环固定在支撑圆盘上,通过调节螺栓调节研磨块的位置,使研磨块与晶圆加热器相接触,同时观察三个数显深度测量指示表显示的数据是否一致,直至将三个数显深度测量指示表的数据调节为一致,此时,研磨块的平面度达到要求;然后启动旋转电机,旋转电机带动加热器支撑圆盘转动,开始研磨;研磨20-30分钟后,通过观察研磨面的色泽来判断研磨是否到位,没研磨前,表面为深色,研磨后表面为浅色,很容易观察到修磨的进度;通过肉眼初步判断研磨到位时,进一步用数显深度测量指示表通过研磨主体圆盘上的测量孔,在晶圆加热器上选取几个点进行测量,显示数据相同,即说明研磨到位。显示数据不同,说明研磨没有达到要求,此时调节螺栓,再次使研磨块与晶圆加热器相接触,继续研磨,二次研磨时间设置为10-20分钟。本发明提供一种高频加热时精确控制温度的装置及方法。上海 PH250加热板
当物件温度距目标温度80120°C时,改为动态功率加热。MSA FACTORYPA3003-PCC10A加热板经销
使得同心圆圆弧上的位置温场分布较差。但是传统构造的加热片在采用时候会存在很多疑问:1.中间ω形状的热弧板1在持续加热工作后会有变形,这种变形又会更进一步引致加热片的总体变形,这种总体变形又会让两组加热片之间彼此相近(易于放电打火甚至短路)或上翘,这种远离或相近也会导致左电极3和右电极4,如附图2中相片的黑色箭头指示位置处。2.为了确保加热安定,其加热片的构造相同,这使得直线对称构造的加热片,其左电极3和右电极4在同一侧,会存在短路隐患,更是是总体变形后还会存在挤碎底部陶瓷的高风险。3.为了防范每组加热片之间短路,在每个包抄的加热片之间都会留有空隙22,而传统两组加热片之间存在的空隙22(主要在直线对称轴附近)空间分布不合理,迂回拐点相对处较近,其他地方较宽,会导致提供给芯片发育的热源不安定;同时,这种间隔较大,由于存在较大的温差,故此也致使拱形热片2的迂回拐点特别容易发生变形,附图3中的相片所示;相反,如果在直线对称轴附近留有的空隙较小,又会因为疑问1的缘故特别易于引致短路。目前的解决办法是:对传统加热片频繁的检查,做到早发现,早更换。但是这会增加加热片的使用成本。MSA FACTORYPA3003-PCC10A加热板经销
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